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      當前位置:首頁產品中心F20Filmetrics臺式薄膜厚度測量系統

      Filmetrics臺式薄膜厚度測量系統
      產品簡介:

      F20 系列
      世界上的臺式薄膜厚度測量系統
      只需按下一個按鈕,您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率。設置同樣簡單, 只需插上設備到您運行Windows™系統計算機的USB端口, 并連接樣品平臺 , F20已在世界各地有成千上萬的應用被使用. 事實上,我們每天從我們的客戶學習更多的應用.

      選擇您的F20主要取決於您需要測量的薄膜的厚度(確定所需的波長范圍)

      產品型號:F20

      更新時間:2019-05-06

      廠商性質:代理商

      訪 問 量 :2236

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      產品介紹

      單點厚度測量--F20

      一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆。

      微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量--F40

      當測量斑點只有1微米(µm)時,需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個系統。

      自動厚度測量系統--F50

      幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動測繪。人工加載或機器人加載均可。

      自動化薄膜測繪

      Filmetrics F50 系列的產品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度。一個電動R-Theta 平臺可接受標準和客制化夾盤,樣品直徑可達450毫米。(耐用的平臺在我們的量產系統能夠執行數百萬次的量測!)

      測繪圖案可以是極座標、矩形或線性的,您也可以創造自己的測繪方法,并且不受測量點數量的限制。內建數十種預定義的測繪圖案。

      不同的 F50 儀器是根據波長范圍來加以區分的。 標準的 F50是受歡迎的產品。 一般較短的波長 (例如, F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜,而較長的波長則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

      在線厚度測量系統--F30

      監測控制生產過程中移動薄膜厚度。高達100 Hz的采樣率可以在多個測量位置得到。

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